Kreon亮相2025年Control展会：精准与高效并重

全系列3D测量解决方案亮相Control展会

今年，Kreon通过三个互动工作坊，展示了丰富的技术解决方案：

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1.测量臂与3D扫描仪

在展位上，Onyx和Ace+测量臂搭配 Skyline Xtra Wide和Eyes扫描仪，展示了其在接触式（探测）和非接触式（3D扫描）测量方面的多功能性。从大面积快速扫描到复杂细节的捕捉，这些配置在各种零件和材料的测量中展现了极高的精度、速度和适应性。

2.三坐标测量机（CMM）扫描

CMM工作坊展示了Zephyr III 300和Zephyr III 50高性能扫描仪与CMM系统的集成，突显了高性能扫描设备与自动化流程结合所带来的高效生产力。这些扫描仪的多功能性通过与Wenzel和Coord3三坐标测量机的无缝集成得到了完美体现，同时兼容 Polyworks和MetrologX4计量软件。

3.Zenith计量软件新功能：简化检测流程

Zenith 25.0.0版本引入了多项新功能，帮助用户更轻松高效地达成测量目标。更新后的坐标系统更加直观和灵活，用户可以更便捷地创建并切换坐标系统。

新增的CAD点云过滤功能可自动移除与对齐CAD模型距离过远的点，从而实现更干净、更快速、更精准的测量结果。

其他增强功能还包括3D视图管理，可以保存相机位置和各项内容的可见性。

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Control 2025展会亮点与动态

Kreon Technologies衷心感谢所有为本次展会成功举办作出贡献的合作伙伴。特别感谢Duwe 3D AG在展会上展示了搭载Skyline扫描仪的Kreon测量臂，突显了我们技术在真实应用中的强大性能，并进一步巩固了我们在行业中的合作关系。

同时，我们也诚挚感谢WENZEL和Coord3公司在提供并安装他们的CMM设备方面给予的大力支持。

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Kreon热情迎接各方来宾

Kreon在展位上热情接待了来自世界各地的访客，提供了全系列产品的现场演示，这些产品旨在满足各种计量需求。除了展示技术实力，Kreon团队还提供了专业建议，帮助客户应对测量过程中遇到的具体挑战，并提出了切实可行的解决方案。

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展望未来

Kreon不断优化其产品和解决方案，以应对工业4.0时代的挑战。无论是汽车、航空航天，还是一般制造业，公司始终致力于为计量领域的未来提供精准工具。