測定アーム
OnyxAceの測定アームと3Dスキャナー
シュトゥットガルトで開催される「Control Messe」に長年出展してきたKreon Technologiesは、第37回Control見本市に再び参加し、最先端の3D計測技術を披露しました。2025年5月6日から9日まで、ホール3のブース3401は、3Dスキャン、プロービング、計測ソフトウェアにおける高性能ソリューションを求める来場者にとって必見の場所となりました。
今年、クレオンは3つのインタラクティブなワークショップを通じて、幅広いソリューションを展示しました：
ブースでは、 Onyx とAceの測定アームを、 Skyline Xtra WideおよびEyesスキャナーと組み合わせることで、接触式（プロービング）および非接触式（3Dスキャン）測定の両方における汎用性を実証しました。広範囲な表面の高速スキャンから複雑な細部の捕捉に至るまで、これらの構成は、幅広い部品や素材に対して高い精度、速度、そして適応性を発揮しました。
このCMMワークショップでは、高度なZephyr 300Zephyr 50スキャナーをCMM装置に統合し、高性能スキャナーと自動化されたワークフローの組み合わせがもたらす驚異的な生産性を実証しました。KreonZephyr スキャナーの汎用性は、WenzelおよびCoord3製のCMMとのシームレスな統合によって示されました。 Polyworks およびMetrologX4計測ソフトウェアとのシームレスな統合を通じて、その汎用性が実証されました。
Zenith バージョン25.0.0では、ユーザーが目標をより簡単かつ効率的に達成できるよう支援する新機能が導入されました。更新された座標系はより直感的で柔軟性が高く、ユーザーは簡単に座標系を作成・切り替えできるようになりました。
点群用の新しいCADフィルターは、位置合わせされたCADモデルから離れすぎている点を自動的に除去し、よりクリーンで高速かつ正確な測定を実現します。
その他の機能強化点としては、カメラの位置やアイテムの表示状態を保存できる3D管理ビュー機能が追加されました。
Kreon Technologiesは、本イベントの成功にご尽力いただいたすべての方々に心より感謝申し上げます。Duwe 3D AG社には、Skyline を搭載したKreonアームを展示していただき、実運用における当社の技術の強みを際立たせ、業界との強固な連携をさらに深める機会を与えてくださったことに深く感謝いたします。
また、当社のブースに自社のCMM装置を設置するにあたり、多大なるご支援を賜りましたWENZEL社および Coord3社にも、心より感謝申し上げます。
クレオンはブースを訪れたすべてのお客様を温かく迎え、多様な計測ニーズに応えるために設計された全製品ラインの実演を行いました。技術の紹介にとどまらず、クレオンのチームは来場者の計測アプリケーションに関する要件について専門的なアドバイスを提供し、製造上の課題に対して的確な解決策を提示しました。
クレオンは、現代のインダストリー4.0がもたらす課題に対応するため、ソリューションの進化を続けています。自動車、航空宇宙、あるいは一般製造業を問わず、当社は計測技術の未来に必要な精密工具を提供することに尽力しています。
