W jaki sposób zakład Stellantis w Miluzie zoptymalizował procesy pomiarowe przy użyciu maszyn CMM dzięki skanerowi Kreon Zephyr

Przed wprowadzeniem skanera 3D Kreon pomiary elementów oprzyrządowania przeprowadzano metodą sondowania przy użyciu trzech maszyn współrzędnościowych (CMM): dwóch maszyn marki Wenzel i jednej marki Erowa. Metoda ta nie pozwalała jednak na kompleksowe zbadanie wszystkich części ani na wykrycie niektórych wad.

Aby poprawić tę sytuację, rozważono wykorzystanie skanera 3D wykorzystującego światło strukturalne, który był już dostępny w firmie. Jednak pomimo zadowalającej dokładności pomiarów powolne działanie urządzenia sprawiało, że operacje kontrolne były zbyt czasochłonne, co spowalniało tempo produkcji i wymagało zatrudnienia operatora na pełen etat.

W związku z tym zespół metrologiczny zaczął rozglądać się za alternatywami dla bezpośredniej digitalizacji na maszynach CMM. To doprowadziło ich do odkrycia skanerów 3D firmy Kreon, a w szczególności modelu Zephyr . Eksperci z firmy Kreon szybko wykazali, że włączenie skanera Zephyr do procesu pomiarowego jest wykonalne. Rozwiązanie firmy Kreon oferuje kilka zalet, w tym kompatybilność modelu Zephyr z oprogramowaniem metrologicznym Metrolog , stosowanym przez Stellantis . Zespoły były również pod wrażeniem wydajności ekspertów firmy Kreon oraz bliskości geograficznej tej firmy.

Aby zapewnić optymalne działanie rozwiązania, wdrożenie skanera Kreon wymagało modyfikacji sterownika oraz wymiany stojaka maszyny CMM. Zainstalowano również dwa stojaki do wymiany narzędzi ACR III w celu zautomatyzowania przejścia od pomiaru sondą do skanowania. Dzięki temu kontrola przebiega w sposób ciągły: pomiar sondą służy do sprawdzania prostych powierzchni, otworów i obszarów o wąskich tolerancjach, natomiast skaner służy do ogólnej kontroli kształtu i konturów elementów.

Badane elementy o wymiarach do 800 x 500 mm są szybko skanowane przez urządzenie Zephyr 150 dzięki linii laserowej o szerokości 150 mm. Optymalizacja programów pomiarowych również przyczyniła się do wzrostu wydajności. Do istniejących programów dodano nowe sekwencje skanowania związane z zarządzaniem skanerem, które zastąpiły dotychczasowe sekwencje pomiarowe. Takie ulepszenie pozwala zaoszczędzić czas, ponieważ nie było konieczne całkowite tworzenie programów od nowa.

Pomimo regularnych zmian w indeksach elementów nie ma potrzeby każdorazowego ponownego definiowania trajektorii skanera. Znaczną oszczędność czasu zapewnia płynna integracja systemu Zephyr z Metrolog .

Proces kontroli jest obecnie w pełni zautomatyzowany, a jeden operator może obsługiwać jednocześnie dwie maszyny CMM.

Wady, które należy wykrywać na elementach, wynikają z procesów produkcyjnych stosowanych w firmie, a mianowicie z elektroerozji i obróbki skrawaniem. Zużycie elektrod w maszynach do elektroerozji może pozostawiać ślady na elemencie, natomiast obróbka skrawaniem może ujawniać ślady frezów i stopnie. Niektóre zespoły mieszane, w których stosuje się zarówno obróbkę skrawaniem, jak i elektroerozję, mogą czasami wykazywać wady pasowania między elementami wyprodukowanymi przy użyciu tych dwóch różnych technik. Ogólnie rzecz biorąc, odchylenia kształtu wykrywane za pomocą skanera wynoszą 0,25 mm.

Wreszcie, raporty sporządzane po przeprowadzeniu kontroli są dostępne w intranecie firmy za pośrednictwem oprogramowania Metrolog . Jeśli element wymaga poprawek, raport wyświetla się na ekranie, aby pomóc pracownikom odpowiedzialnym za regulację w wprowadzeniu niezbędnych zmian w celu uzyskania elementu zgodnego z wymaganiami. Po dostarczeniu elementu kierownik projektu może również zapoznać się z raportem w intranecie przed zatwierdzeniem kontynuacji projektu.

‍

‍